日本HIOKI(日置) BT4560電池阻抗測(cè)試儀測(cè)量時(shí)間短,電路結(jié)構(gòu)較難受到接觸電阻和布線電阻的影響,可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量,同時(shí)測(cè)量阻抗和電壓。
日本HIOKI(日置) BT4560電池阻抗測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
鋰電池的可靠性判斷 10秒
低頻AC-IR*測(cè)量,測(cè)量時(shí)間短
使用1Hz以下的低頻測(cè)量?jī)?nèi)阻的話不需要充放電
也能準(zhǔn)確*測(cè)量低阻電池
改善S/N比,在3mΩ量程下測(cè)試電流為
電路結(jié)構(gòu)較難受到接觸電阻和布線電阻的影響,實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量
同時(shí)測(cè)量阻抗和電壓