我們會(huì)努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯,如技術(shù)參數(shù)中英文有差異,以英文參數(shù)為準(zhǔn)。
德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀技術(shù)參數(shù):
1、工作臺(tái):
設(shè)計(jì):馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可編程X/Y平臺(tái)
移動(dòng)范圍:255x 235mm
X/Y平臺(tái)移動(dòng)速度:≤80 mm/s
X/Y平臺(tái)移動(dòng)重復(fù)精度:≤0.01 mm,單向
可用樣品放置區(qū)域:300 x 350mm
Z軸:可編程運(yùn)行
Z軸移動(dòng)范圍:140mm
樣品:重量5kg,降低精度可達(dá)20kg
樣品:高度140mm
2、環(huán)境要求:
使用時(shí)溫度:10℃- 40℃
存儲(chǔ)或運(yùn)輸溫度:0℃ - 50℃
空氣相對濕度:≤95%,無結(jié)露
3、計(jì)算單元:
計(jì)算機(jī):帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
軟件:標(biāo)準(zhǔn):WinFTM V.6 LIGHT、可選:WinFTM V.6 BASIC,PDM,SUPER
4、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
CE合格標(biāo)準(zhǔn):EN 61010
X射線標(biāo)準(zhǔn):DIN ISO 3497和ASTM B 568
型式批準(zhǔn):型式許可符合德國"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)規(guī)定。
5、通用規(guī)格:
設(shè)計(jì)用途:能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXRF)用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu),分析合金和微量組分。
元素范圍:從元素氯(17)到鈾(92),配有可選的WinFTM BASIC軟件時(shí),可同時(shí)測定24種元素。
形式設(shè)計(jì):臺(tái)式儀器,測量門向上開啟
測量方向:從上到下
6、X射線探測:
X射線接收器:比例接收器
測量距離:0 ~ 80mm,使用專有保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法
7、視頻系統(tǒng):
視頻系統(tǒng):
CCD彩色攝像頭,沿著初級×射線光束方向觀察測量位置對被測工件進(jìn)行監(jiān)控,可自動(dòng)對焦或手動(dòng)聚焦
十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸)可調(diào)節(jié)亮度的LED照明,激光光點(diǎn)用于定位樣品
放大倍數(shù):40x-160x
8、電氣參數(shù):
電源要求:交流220v 50Hz
功率:120W(不包括計(jì)算機(jī))
保護(hù)等級:IP40
9、尺寸規(guī)格:
外部尺寸:寬×深×高[mm]:570 x760 x 650
內(nèi)部測量室尺寸:寬×深×高[mm]: 460 x 495 x 146
重量:120kg