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德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀

德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀

德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度,通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。
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德國(guó)FISCHER
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德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度,通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。


德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀,通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。

它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),多時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素。

正如*有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長(zhǎng)期的穩(wěn)定性,這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

先進(jìn)的Si-PIN的完全基本參數(shù)法,可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。


德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用:

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

黃金制品和K金制品分析

鉑金制品和銀制品分析

銠制品分析

其他合金分析和鍍層厚度測(cè)量

多鍍層厚度測(cè)量



如需了解更多 德國(guó)FISCHER X-RAY XAN 215入門級(jí)X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀 原理、使用方法、操作視頻、技術(shù)參數(shù)、說(shuō)明書文檔,請(qǐng)聯(lián)系51儀器儀表網(wǎng)工作人員。
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